设备名称：X射线衍射仪
生产厂商：德国布鲁克（Bruker）
设备型号: D8 ADVANCE
仪器简介：
BRUCKER D8 ADVANCEX-ray街射仪，采用达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现BB聚焦几何下的常规粉末、块状物体的定性定量分析以及平行光几何下的薄膜掠入射GID分析，被用于测量研究物质的物相分析、晶粒尺寸测定、纳米粒度大小及粒径、测量纤维及高分子样品的物相、取向度，应力分析等。
性能指标：
X射线光源：铜靶，最大输出功率：3kw；电压≤60kv，电流≤60mA;
点线焦斑切换采用布鲁克专利TWIST光管技术；
光学编码器技术与步进电机马达双重定位；
20转动范围：-110~168°；
可读最小步长：0.0001°，角度重现性：0.0001°；
林克斯XET二维探测器：能量分辨率优于380eV，背景<0.1cps;
光路部分：采用达芬奇设计模式，入射、衍射光路采用TWIN双光路设计。
应用范围：
1、粉末、块状物体样品的定性分析、定量分析、结晶度测量、晶胞参数分析、晶粒大
小及微观应变分析等
2、介孔材料的小角街射分析
3、纳米级薄膜样品定性分析
仪器安装地点：博学楼107室
仪器负责人：许幸芬，电话：0931-4956220，手机：17318771189
