仪器名称：X射线精细吸收谱仪（XAFS）
生产厂商：安徽吸收谱
设备型号：RapidXAFS 2M
仪器简介：
X 射线精细吸收谱仪（XAFS）是一种利用X射线与物质相互作用时的吸收精细结构，研究原子近邻配位环境、电子状态及结构动态演化的大型表征仪器。安徽吸收谱研发的 RapidXAFS 2M 型号，融合了快速扫描技术（Rapid-Scan）、高能量分辨率探测系统及原位反应池集成设计，突破了传统 XAFS 测试效率与时间分辨率的限制，可实现从静态结构到动态过程的全方位研究。其核心优势在于快速扫描模式下仍保持高数据质量，为催化反应、材料相变等动态过程的实时追踪提供了强有力的工具。
功能特点：
最高光通量产品：光子通量高于1000000光子/秒/eV-4000000光子/秒/eV，采谱效率数倍于其他产品；获得和同步辐射一样的数据质量。
优异的稳定性：光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移 < 50 meV
＜1%探测极限：高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量>1%时依旧获得高质量EXAFS数据。
双罗兰圆结构：突破性使用双罗兰圆结构，在单独一个X射线源情况下同时表征2个元素局域结。
技术参数：
能量范围：4 keV ~ 30 keV；
能量分辨率：优于 1 eV；
扫描速度：快速模式 10 点 / 谱，常规模式 20 秒 / 点（可自定义）；
稳定性：连续 8 小时测试，能量漂移≤50 meV；
应用范围：广泛应用于催化材料、能源存储、环境科学等领域。
仪器安装地点：博学楼二楼 203-1 室
管理人：
王伟，博学楼二楼 201-2 室，办公电话：0931-4956220，手机：18993049280
