
设备名称:场发射扫描电子显微镜
生产厂商:德国卡尔蔡司
设备型号:ZEISS GeminiSEM 500
仪器简介:
GeminiSEM 500场发射扫描电镜,配置Oxford UltimMax 65 EDS能谱仪,用于样品的超高分辨微观形貌表征、微区结构及成分分析。加速电压0.02 kV~30 kV连续可调,15 kV下分辨率可达0.5 nm。Nano-twin lens物镜探测系统对于不导电样品、磁性样品、电子束敏感(易损伤)样品等具有卓越的成像优势。经优化和增强的Inlens探测器,可高效地采集信号,在较低的加速电压下,避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。适用于各类材料的成像表征和成分分析。
功能特点:
具有出色的分辨率:15 kV下分辨率可达0.5 nm,能够轻松地实现亚纳米分辨成像;
独特的Nano-twin lens物镜:优化静电场和磁场的复合功效,在低电压下具有更高的分辨率。提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率;
在低电压下获取更丰富的细节信息:在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度,二次电子图像分辨率1 kV达0.9 nm,500 V达1.0 nm,在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像;
应用高分辨率电子:缩小30 %的出射电子束能量展宽,有效地降低像差,获得更小的束斑;
技术参数:
分辨率:≤0.5 nm@15 kV(二次电子,标准模式下,非STEM模式及非样品台减速模式);≤0.9 nm@1 kV(二次电子,标准模式下,非STEM模式及非样品台减速模式);
放大倍率:100 x - 2,000,000 X倍,放大倍数自动校准,低倍率与高倍率无需模式更换;
加速电压:0.02 kV - 30 kV,以10 V为步进连续可调;
探针电流:范围5 pA - 20 nA;束流稳定性:0.2%/10 h;
元素分析范围:Be4 - Cf98;
能量分辨率:MnKα优于129 eV(计数率1 00,000 cps);
应用范围:
广泛应用于材料科学、生命科学、环境科学、物理学、化学化工、医学、地质勘探、石油化工、以及工业生产中的产品质量鉴定等领域。
仪器安装地点:博学楼分析测试中心105室
仪器管理人:曾雪,办公电话:0931-4956220,手机:15101201253