仪器名称：X射线光电子能谱仪（XPS）

仪器型号：AXIS SUPRA₊

设备厂家：日本岛津\Kratos

仪器详情：

X射线光电子能谱仪（XPS）是一款高端表面分析仪器，能够提供材料表面约10 nm深度范围内的元素组成、化学状态和电子结构等信息。它的设计融合了高度自动化的样品操作和高性能分析能力，非常适合用于研究金属、半导体、聚合物、催化剂、涂层以及生物材料等各种固体材料。

规格及技术指标：

(1) X射线源：Al/Ag双阳极单色器；

(2) 最佳电子能谱能量分辨（Ag 3d5/2）：优于0.43 eV，这意味着它能够清晰分辨出化学环境微细差异所导致的微小结合能位移，为精确判定化学态提供保障；

(3) 最佳化学状态成像空间分辨：通过专利的磁镜平行成像技术，它可以在不扫描的情况下直接获得特定化学元素在样品表面的二维分布图，其空间分辨率优于1 μm，使研究者能够直观地看到化学成分的不均匀性、污染物分布等；

(4) 常规分析性能：0.6 eV @ 2.5 Mcps，这种高灵敏度直接转化为更快的分析速度、更低的检测限，以及对微量、稀薄表面物种的强大探测能力；

(5) 深度剖析离子源：单Ar₊离子模式，最高加速电压4kV，高加速电压的Ar₊离子模式可用于快速深度剖析和无机材料的刻蚀；低加速电压的Ar₊离子模式可以实现对有机聚合物、生物样品等脆弱、易损材料的“轻柔”刻蚀，在清除表面物质的同时最大限度地保持其原始化学结构，这是该设备的一大技术亮点；

(6) 主要附件：紫外光电子能谱（UPS）；离子散射谱（ISS）；变温附件（-100 ~ 800 ℃）。

服务项目：

(1) 常规定性定量分析：对样品表面进行全谱扫描，定性鉴定所有存在的元素（除H、He外），并进行半定量计算；

(2) 化学态分析：对特定元素进行高分辨率精细谱扫描，通过精确的结合能位置确定其化学状态（如元素价态、成键环境）；

(3) 元素深度分布分析：结合离子枪的逐层剥离与XPS的实时分析，获得元素及其化学态从表面到体相的纵深分布信息；

(4) 表面化学成像：获取特定元素或化学态在样品表面的二维分布图像，直观展示成分的空间不均匀性；

      特殊功能分析：可选配或集成紫外光电子能谱（UPS） 用于分析材料的价带结构和功函数，或进行原位处理（如加热、冷却）下的分析，模拟材料在真实工况下的表面行为。

测试须知：

 1，样品可以为粉末样品、薄膜样品或块状样品。其中：粉末样品粒度要尽量细，薄膜样品做好标记，块状样品长×宽×厚小于5 mm×5 mm×3 mm；

 2，样品要求真空干燥，聚合物在X射线照射下不分解，禁送具有腐蚀性、挥发性、磁性、放射性、化学毒性或生物毒性样品（不带磁性的磁性材料可以测试，或去磁后的磁性样品可以测试，但必须提前告知）；

3，样品是否导电需提前告知；

4，样品编号请采用1、2、3……等简单编号，清楚写明待测元素名称；

5，不检测含单质硫、碘、磷的样品（若样品在有硫、碘单质存在的环境下合成或处理也请在备注中说明并在送样时告知测试老师，避免污染高真空系统）；

6，送样时请提供：课题组、送样人、样品名称、样品编号、安全属性（腐蚀性/挥发性/磁性/放射性/化学毒性/生物毒性/水氧敏感性）及测试项目，尽可能注明样品组成（结构式最佳）；

7，特殊要求，如角分辨，选点分析将会需要更长时间的等待。

存放地址：博学楼2楼210室

负责人：王倩    电话：0931-4956220