设备名称：X射线荧光光谱仪
生产厂商：日本理学
设备型号: ZSX Primus IV
仪器简介：
ZSX Primus IV 采用上照射设计，不用担心污染光路，清理麻烦和增加清理时间等问题，具有双真空系统，自动真空控制，mapping/微区分析，超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等特点，可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管，保证轻元素分析灵敏度，先进的mapping分析可以检测同质性和夹杂物。在环境监测、地质勘探、材料科学、食品安全等领域具有广泛应用。
性能指标：
★ 上照射设计：避免污染光路、清理麻烦和增加清理时间等问题
★ 双真空系统：具有双真空系统、自动真空控制、mapping/微区分析、超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等特点
★ mapping分析：先进的mapping分析可以检测同质性和夹杂物，可灵活分析复杂样品
★ 30μm超薄窗光管：30μm超薄窗光管保证了轻元素分析灵敏度
★ FP无标样分析：无需设定测试成分也能准确分析
应用范围：
从轻元素如硼（B，Z=5）到重元素如铀（U，Z=92）均可进行元素检测
仪器安装地点：博学楼208-2室
仪器负责人：许幸芬，电话：0931-4956220
